SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范
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ID： |
E771783F251F4FAD80811CF983CE170F |
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文件大小(MB)： |
0.47 |
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页数： |
8 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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S?J,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5911 SJ 20784—2000,微型杜瓦总规范,General specification fbr micro Dewar,200070-20 发布200070-20 实施,中华人民共和国信息产业部 批准,中华人民共和国电子行业军用标准,微型杜瓦总规范SJ 20784—2000,General specification for micro Dewar,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了微型杜瓦（以下简称杜瓦）的要求、质量保证规定及交货准备等,1.2 适用范围,本规范主要适用于红外探测器用杜瓦的研制和生产,其它用途的杜瓦也可参照采用,2引用文件,GB 191—90包装储运图示标志,GJB 1788-93红外探测器试验方法,GJB 1788-93红外探测器试验方法,GJB 1788-93红外探测器试验方法,GJB 1788-93红外探测器试验方法,方法2040低温贮存试验,方法2010温度冲击试验,方法2080振动试验,方法2070冲击试验,3要求,3.I 详细规范,杜瓦的要求应符合本规范和详细规范的规定。若本规范的要求与详细规范的要求相抵,触时,应以详细规范为准,3.2 合格鉴定,按本规范提供的杜瓦应是经鉴定合格的产品,3.3 材料,材料的等级、规格和型号应满足本规范和详细规范的所有丄作和环境要求,3.4 设计和结构,杜瓦的外形尺寸、结构、功能及接口的设计应符合详细规范的规定,3.5 性能特性,3.5.1 窗口特性,按4.5.2试验】窗口波段范闱和窗口峰值透视比应符合详细规范的规定,3. 5.2静态热负载,按4.5.3试验,杜瓦的静态热负载应不大于详细规范的规定,3.5.3真空完善性,中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布 2000H0-20实施,-1 -,SJ 20784—2000,按4.54试验,‘杜瓦的真空完善性应符合详细规范的规定,3. 5.4引线电阻,按4.5.5试验,杜瓦的引线电阻应符合详细规范的规定,3. 5.5绝缘电阻,按4.5.6试验,杜瓦引线的的绝缘电阻应符合详细规范的规定,3. 5.6气密性,按4.5.7试验,杜瓦封装前的氮气泄漏率应不大于详鱷范的规定,3.6 环境试验,3 . 6.1低温贮存试验,按4.6.1试验后,杜瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求,3 .6.2温度冲击试验,按4.6.2试验后,杜瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求,3 . 6.3振动试验,按4.6.3试验后，杜瓦的静态热负载、真空完善性、气密性应满足3.5.2、3.5.3、356,的要求,3 .6.4冲击试验,按4.6.4试验后,杜瓦引线应导通,且应满足3.5.4、3.5.5的要求,3.7 外观质量与机械检查,3.7.I 重量,杜瓦的重量应符合详细规范的规定,3.7.2 尺寸,杜瓦的尺寸和公差应符合详细规范的规定,3.7.3 标志,杜瓦的标志应有产品型号、编号及生产厂代号，且应清晰可见,3.7.4 外观,杜瓦的外观应光滑平整，无毛刺、裂纹等影响寿命和使用的缺陷,4质量保证规定,4.1 检验职责,除合同或订单另有规定外,承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,订,购方或上级鉴定机构有权对规范所述的任一检验项目进行检査,4.2 检验分类,本规范规定的检验分为:,a.鉴定检验;,b.质量一致转检验,4.2.1 生产批,ー个生产批应由在同一条件卜.采用相同的设计、「.艺、材料、设备制造的杜瓦组成,4. 2.2检验批,承制カ在规定时间内提交质量一致性检验的全部杜瓦以确定是否符合详细规范和本,-2 -,SJ 20784—2000,规范的要求,ー个检验批可由一个生产批组成,或由几个在本质上属于相同条件（材料、エ艺、,设备等）下制造的生产批组成,4.3鉴定检验,鉴定检验应在上级鉴定机构认可的试验室中进行.,4.3.1 抽样,提交鉴定检验的杜瓦应从生产线上抽取,样品应是在生产中通常使用的设备和エ艺,生产的，其样品数成不少于3只,4.3.2 检验,鉴定检验应按表1规定的项目及顺序进行。不满足其中一项检验都应成为拒绝授予,鉴定批准的理由,表1鉴定检验,序号检验项目要求章条号方法章条号,1 外观与机械检査0 3.7 4.5.1,2 窗U特性い3.5.1 4.5.2,3 引线电阻D 3.5.4 4.5.5,4 绝缘电阻D 3.5.5 4.5.6,5 气密性0 3.5.6 4.5.7,6 静态热负载3.5.2 4.5.3,7 真空完善性3.5,3 454,8 低温贮存试验3.6.1 4.6.1,9 温度冲击试验3.6.2 4.6.2,10 振动试验3.6.3 4.6.3,11 冲击试验3.6.4 4.6.4,注:1）封装前检测,也可用其它封装样品代替.,4. 3.3鉴定合格资格的保持,为了保持鉴定合格资格,承制方应每隔12个月向鉴定机构提交一份报告。鉴定机构,应规定起始报告日期。报告内容包括A组、C组检验的试验结果的汇总,至少应说明已,通过检验批的数量和不合格批的数量;任何零件失效的数量和类型;一年中完成的试验,项目;应鉴别所有返修批的试验结果并加以说明,在每12个月周期结束前的30天内不提交报告者,将可能导致丧失该产品的鉴定合,格资格。除周期地提交检验资料外,在12个月周期内的任何时候,若检验资料显示已鉴,定合格的产品不能满足本规范的要求时,承制方应立即通知鉴定机构,如果在报告燉期内未生产时,应提交一份报告证明承制方仍具有生产这种产品的所,必需能力和设备。如果相继两个报告周期内仍未生产,根据鉴定机构的决定，可以要求,承制方提供产品……
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